KIMS 공용장비 활용 및 시험분석 시스템

전자현미경분석(외부) - 세부 분류, 시험 항목, 시험수수료, 기타, 시험소요일
세부 분류	시험 항목		기타	시험 소요일
세부 분류	시험 항목		기타	시험 소요일	SEM	Normal-SEM (IT300/6610LV)	SEM/EDS	- 의뢰 시, 담당자 사전 협의 필수 - 시편 전처리 불가 - 부위 추가	협의
FE-SEM (IT700HR)	-						SEM/EDS
FE-SEM (4601F/7001F/SU6600)	SEM/EDS/EBSD	- 의뢰 시, 담당자 사전 협의 필수 - 시편 전처리 불가 - 부위 추가
저전압 FE-SEM (7900F)
FE-SEM (7800F)
CP	CP (19520CP)	단면 가공	- 의뢰 시, 담당자 사전 협의
TEM	Cs-TEM (2100Cs)	TEM/EDS/ELLS/ASTAR
	FE-TEM (F200)	TEM/EDS
	In-situ TEM (2100F)	TEM/EDS
FIB	FIB (Helios 5 UX)	표면/단면 분석	- 시료 특성에 따라 추가비용 발생 - TEM/APT 시편 가공 시, 1ea 당 2시간 기준 - 장비담당자 별도 예약 필요
FIB	FIB (Helios 5 UX)	TEM/APT 시료 가공
APT	APT (LEAP 5000XS)	LEAP 측정	- 시료 특성에 따라 추가비용 발생 - 시료 파단으로 인한 실험 종료 시, 별도 요금 발생하지 않음 - 기본 raw 파일(.hits) 형태로 제공, AP suite 6.3 분석 서비스 필요 시 별도 신청 - 장비담당자 별도 예약 필요
APT	APT (LEAP 5000XS)	AP suite 6.3

전자현미경분석(원외) - 세부 분류, 시험 항목, 이용수수료, 기타
세부 분류	시험항목	기타
ICP-OES	전처리	- 시료의 구성성분 및 예상 함량 등 시료 정보 제공 필요 - 벌크 샘플은 최대한 균질화 하여 분말 형태로 준비
ICP-OES	분석료
WD-XRF	전처리	- 원외 접수 시 담당자 문의 필수 - 원내 직접사용 시 사용자 교육 이수 필수 - 담당자 : 김지은
	전처리(분말)
	직접사용
	정성분석
	정량분석
	Mapping
SPARK-OES	전처리
SPARK-OES	분석료
ONH	전처리	- 시료의 주성분 정보 제공
ONH	분석료	- 시료의 주성분 정보 제공
CS	전처리	- 시료의 주성분 정보 제공
CS	분석료	- 시료의 주성분 정보 제공
IC	전처리	- 표준물질 신청자 제공 필요
IC	분석료	- 표준물질 신청자 제공 필요
XRD	High-Resolution High-Power XRD (SmartLab XE)	- 원외 접수 시 담당자 협의 필수 - 원내 : 직접사용 - 직접사용 시 사용자 교육 이수 필수 - 담당자 : 임경원
	High-Power XRD (D/max-2500V/PC)
	XRD (Empyrean)	- 원내 : 직접사용 - 직접사용 시 사용자 교육 이수 필수 - 담당자 : 오세혁

기계적물성시험(원외) - 담당자, 시험 항목, 단위, 원내, 원외, 추가품목, 추가비용
담당자	시험 항목	단위	추가품목
권준범	고속충돌, 고속인장	시간
권준범	초고속인장압축	개	3D-DIC
안능호	경도 (마이크로비커스)	개	부위추가 포인트당
안능호	경도 (로크웰, 브리넬)	개	부위추가 포인트당
정우형	고온인장 599도 이하	개
	고온인장 600도~799도	개
	고온인장 800도~980도	개
	고온인장 981도~1100도	개
유위도	저주기피로 (상온, 고온)	시간
유위도	고주기피로 (상온, 고온, 상온파괴인성KIC)	시간
이승용	Gleeble 고온인장, 압축	개	Holding time 5분이상 시편당
	Gleeble 고온인장, 압축	개	변형률속도 10^-2 s^-1 미만 시편당
	상온 3D-Digital Image Correlation	개
하영수	초고온 피로시험	시간
하영수	초고주기 피로시험	시간
박성영	인장강도, 탄성계수	개
	항복강도, 연신율, 수축율	개
	제품인장시험	개
	PC강연성 (표준)	개
	상온충격치	개	냉매료 별도 (시료 20개 기준)
	상온횡팽창	개
	저온충격치	개
	저온횡팽창	개

구조시험(원외) - 시험 항목, 원외, 추가품목, 추가비용
시험 항목	원외	추가품목	추가비용
정적, 피로, 동적 시험	협의	측정 항목 및 기타 엔지니어링 수수료 별도 산정, 신청 전 협의 필수	협의
3차원 변위 측정	협의
3차원 형상 측정	협의
복합재 UT 검사	협의

복합재료시험(원외) - 시험 항목, 원외, 추가품목, 추가비용
시험 항목	추가품목	추가비용
인장시험	- 시험가능여부 사전협의 필요 - 고온 및 저온 시험비용은 협의 후 결정 - 최종 시험비용은 협의 후 변경가능	협의
압축시험
전단시험([±45])ns 인장시편, V-notch 시편)
굽힘시험
숏빔강도시험
복합재료 구성비 측정
복합재료 밀도 측정

구조 비파괴 분석(원외) - 시험 항목, 원외, 추가품목, 추가비용
시험 항목	추가품목	추가비용
3D Micro X-Ray CT	분석 범위에 따른 수수료 별도 산정, 신청 전 협의 필수	협의

동/충격/온습도시험 비용(원외) - 세부 분류, 시험항목, 시험 수수료 (원외)
세부 분류	시험항목
진동/충격 시험
온/습도 시험

KIMS 한국재료연구원