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  • 전자현미경분석

    전자현미경분석 이미지

  • SEM, TEM, FIB, APT 등의 고급분석기술을 기반으로 재료의 미세 구조, 나노 구조 및 원자 구조에 대한 분석을 수행합니다.

  • 주요 분석기술

    재료의 미세조직 이미징 재료의 정성 분석 및 결정 방위 분석 고해상도 나노구조 이미징 원자단위 이미징 3차원 원자 분포 이미징 시료 표면 및 단면 관찰용 시편 제작

  • 주요 분석장비

    FE-SEM, SEM, EDS, EBSD, CP FE-TEM, EELS, ASTAR, FIB, APT

  • 분석상담

    주사전자현미경 (SEM)

    담당자
    김은영
    이메일
    kimey@kims.re.kr
    담당자
    임경원
    이메일
    yct110@kims.re.kr

    투과전자현미경 (TEM)

    담당자
    정태현
    이메일
    thjeong@kims.re.kr

    집속이온빔 (FIB)

    담당자
    윤건영
    이메일
    gyyoon@kims.re.kr

    원자단층현미경 (APT)

    담당자
    윤건영
    이메일
    gyyoon@kims.re.kr